G652D光纤宏弯损耗测试方法的实践及数据分析

发布: 2012-10-18 12:32 | 作者: | 来源: | 字体: 小中大

2010年11月9日消息，光纤宏弯损耗测试，在国家标准GB/T9771.3-2008中描述：光纤以30mm半径松绕100圈，在1625nm测得的宏弯损耗应不超过0.1dB。

而注2中描述：为了保证弯曲损耗易于测量和测量准确度，可用1圈或几圈小半径环光纤代替100圈光纤进行试验，在此情况下，绕的圈数环的半径和最大允许的弯曲损耗都应该选的与30mm半径100圈试验的损耗值相适应。

大多光纤厂家都提供Φ60mm*100圈的判断标准，然而，在日常的测试工作中，若要采用方便快捷的实验方法，则倾向于按照注2中的建议去进行一些常规判断。因此，掌握Φ32mm*1圈与Φ60mm*100圈的数据差异就十分有必要。

一、两种宏弯损耗测试方法的比较

图为两种宏弯损耗测试方法示意图

用上述方法对10盘正常生产条件下的光纤样品进行对比测试。

来源：OFweek光通讯网

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